中子衍射器 的英文怎麼說
中文拼音 [zhōngziyǎnshèqì]
中子衍射器
英文
neutron diffraction apparatus- 子 : 子Ⅰ名詞1 （兒子） son 2 （人的通稱） person 3 （古代特指有學問的男人） ancient title of respect f...
- 衍 : [書面語]Ⅰ動詞（開展; 發揮） spread out; develop; amplifyⅡ形容詞（多餘） redundant; superfluousⅢ名...
- 射 : Ⅰ動詞1 （用推力或彈力送出） shoot; fire 2 （液體受到壓力迅速擠出） discharge in a jet 3 （放出） ...
- 器 : 名詞1. （器具） implement; utensil; ware 2. （器官） organ 3. （度量; 才能） capacity; talent 4. （姓氏） a surname
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The position and size of the monochromator, focusing curvature radii and tilting angles of the germanium focusing monochromator under different different take - off angle, size and divergency of the second collimator and intensity loss due to the use of it were determined. the neutron flux at different wavelength, under different reflection and take - off angle of the monochromator and divergency of the first collimator, were given. the simulation on the aperture used for limiting beam size in front of the sample showed that, smaller the size of the aperture and further the distance from the aperture to the sample, greater the loss of the intensity and more serious the spread of the beam along vertical direction at the sample position which makes the practical sampling volume greater than expected
用蒙特卡羅模擬方法對中子應力衍射譜儀的設計方案進行了優化研究，提出了一系列可供參考的數據：確定了單色器的位置、尺寸、垂直聚焦單色器在不同起飛角下的聚焦曲率半徑和傾角；討論了第二準直器的尺寸和發散，以及使用第二準直器造成的強度損失；給出了在不同單色器反射面、起飛角、中子波長和第一準直器發散度的情況下樣品處的中子注量率，以及多種組合情況下譜儀的解析度曲線；對限束方孔的尺寸、距離樣品遠近對強度損失和測量中的影響做了深入研究。The thesis mainly investigated the bati _ 4o _ 9 ( bt _ 4 ), which has the lowest dielectric loss in ba - ti system, and ( ba, sr ) tio _ 3, the a position substitute compound of batio _ 3. the dielectric properties of bt _ 4 / bst with different preparation way and different elements doping were investigated. a archimedes method, xrd, sem, impedance analyzer, network analyzer and hakki - coleman method were used to investigate the density, phase formation, microstructure, dielectric properties and doping mechanisms
本論文以在ba - ti系中具有最低介電損耗的bati _ 4o _ 9 （ bt _ 4 ）高頻介質陶瓷和batio _ 3a位sr取代而得的（ ba ， sr ） tio _ 3 （ bst ）高頻介質陶瓷作為研究對象，對不同粉體制備方法制備的bt _ 4 / bst高頻電介質材料進行不同元素的摻雜，運用阿基米德方法， x射線衍射分析儀，掃描電子顯微鏡和阻抗分析儀，網路分析儀， hakki - coleman法等方法手段和測試儀器測試燒成樣品的密度，相組成情況，微觀結構和介電性能，探討造成介電性能起伏的形成機理。
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