檢驗和位元組 的英文怎麼說
中文拼音 [jiǎnyànhéwèiyuánzǔ]
檢驗和位元組
英文
check sum byte- 檢 : Ⅰ動詞1 （查） check up; inspect; examine 2 （約束; 檢點） restrain oneself; be careful in one s c...
- 驗 : 動詞1. （察看; 查考） examine; check; test 2. （產生預期的效果） prove effective; produce the expected result
- 和 : 和動詞（在粉狀物中加液體攪拌或揉弄使有黏性） mix （powder） with water, etc. : 和點兒灰泥 prepare some plaster
- 位 : Ⅰ名詞1 （所在或所佔的地方） place; location 2 （職位; 地位） position; post; status 3 （特指皇帝...
- 組 : Ⅰ名詞1 （由不多的人員組成的單位） group 2 （姓氏） a surname Ⅱ動詞（組織） organize; form Ⅲ量詞（...
- 檢驗 : checkout; test; examine; inspect; verify; survey; check;checking;testing;[英國]jerque（指檢查船舶...
-
With the development of microelectronic products ( integrated circuit, printed circuit board, etc ) directing to high density, thin separation and low defect ratio, its inspection requirement is higher on aspects of precision, efficiency, universal, and intelligence etc. therefore, this paper researched on the general key techniques in the field of microelectronic products vision inspection, covered the shortage of traditional inspection on aspects of fast and precision locating, image mosaic, and fine defect test, completed theory study on physical dimension and defect inspection of microelectronic products based on machine vision, developed the prototype and used lots of experiments to prove its correctness and feasibility
隨著微電子產品（集成電路晶元、印刷電路板等）向著高密度、細間距和低缺陷方向發展，對其檢測技術在精密、高效、通用和智能化等方面提出了更高要求。由此，本文對微電子產品視覺檢測中的關鍵技術進行研究，彌補了傳統檢測在精確快速定位、圖像全景組合和精細缺陷檢測等方面的不足，最終完成基於機器視覺的微電子產品外形尺寸和缺陷檢測的理論研究和樣機研製，並進行了大量實驗證明其正確性和可行性，力圖為我國自主創新的微電子產品視覺檢測技術提供理論和實際借鑒。
分享友人