淀積層成分 的英文怎麼說

中文拼音 [diànjīcéngchéngfēn]
淀積層成分 英文
deposition composition
  • 淀 : Ⅰ動詞（沉澱） form sediment; settle; precipitateⅡ名詞（淺的湖泊, 多用於地名） shallow lake
  • 積 : Ⅰ動詞（積累） amass; store up; accumulate Ⅱ形容詞（長時間積累下來的） long standing; long pending...
  • 層 : i 量詞1 （用於重疊、積累的東西 如樓層、階層、地層） storey; tier; stratum 2 （用於可以分項分步的...
  • 成 : Ⅰ動詞1 （完成; 成功） accomplish; succeed 2 （成為; 變為） become; turn into 3 （成全） help comp...
  • 分 : 分Ⅰ名詞1. （成分） component 2. （職責和權利的限度） what is within one's duty or rights Ⅱ同 「份」Ⅲ動詞[書面語] （料想） judge
  1. Abstract : based on the ahievement of epitaxial growth in several perovskite oxide films, we discuss the importance of substrate temperature ( ts ) and substrate material in the epitaxial growth of perovskite oxide thin films. influences of ts on growth orientation and epitaxial threshold temperature were observed. the results indicate that during the growth of the oxide films the phase formation and growth dynamics should be taken into consideration. the threshold temperature for epitaxial growth depends on the substrate materials. this demonstrates the influence of substrate material on the initial nucleation and epitaxial growth

    文摘:在成功地外延生長超導、鐵電、鐵磁等多種性質的鈣鈦礦結構氧化物薄膜的基礎上，討論影響氧化物薄膜外延生長的一些因素.考慮到相形成和薄膜生長動力學，在利用脈沖激光淀積法外延生長氧化物薄膜中襯底溫度是十分重要的工藝參數.襯底溫度對成相和生長薄膜的取向都有影響.考慮到薄膜是首先在襯底表面成核、成相併生長.因此襯底材料晶格的影響是不容忽視的.觀察到襯底材料對薄膜外延生長溫度的影響.在適當的工藝條件下，利用低溫三步法工藝制備得到有很強織構的外延薄膜.這突出表明界面層的相互作用對鈣鈦礦結構薄膜的取向有著相當大的影響
  2. In this paper, the growth technology is presented for epitaxial silicon carbide films on sapphire with a buffer layer by atmospheric - pressure chemical vapor deposition ( apcvd ) process. the effect of temperature and precursors flow rates on the growth of silicon carbide films by chemical vapor deposition is analyzed. the structural properties of the films grown on sapphire compound substrate are studied by x - ray diffraction ( xrd ), x - ray photospectroscopy ( xps ) and photoluminescence spectroscopy

    本論文提出了在藍寶石上引入一層緩沖層材料形成復合襯底，採用常壓化學氣相淀積（ apcvd ）方法在其上異質外延生長sic薄膜的技術，分析了cvd法生長sic的物理化學過程，通過實驗提出sic薄膜生長的工藝條件，並通過x射線衍射（ xrd ） 、 x射線光電子能譜（ xps ） 、光致發光譜（ pl譜）和掃描電鏡（ sem ）對外延薄膜的結構性質進行分析。
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