secondary ion spectroscopy 中文意思是什麼

secondary ion spectroscopy 解釋
二次離子譜法
  • secondary : adj 1 第二（位）的，第二次的；中級的 （opp primary）。2 副（的）；從屬的；附屬的；輔助的；補充的...
  • ion : n. 【物理學】離子。 positive [negative] ion正[負]離子。
  • spectroscopy : n. 【物理學】分光術，光譜學。n. -ist
  1. The fabrication parameters were preliminarily optimized. the morphology and composition of the samples of the diamond film for different b / c ratios was investigated by scanning electron micrograph ( sem ) and raman scattering spectroscopy ( raman ). the content of different levels of b dopant in the diamond film was tested by secondary ion mass spectrometry ( sims )

    闡述了摻硼金剛石膜的制備工藝，研究了摻硼金剛石膜成核和生長的影響因素，初步優化了沉積摻硼金剛石膜工藝參數，同時對摻硼金剛石膜進行了掃描分析、拉曼分析、二次離子質譜分析和電阻率測試。
  2. Secondary ion spectroscopy

    二次離子譜法
  3. Among the destructive techniques able to provide the desired depth resolution the most widely used technique is secondary - ion - mass spectroscopy ( sims )

    在可以提供所希望的縱向解析度的損傷技術中，最廣泛運用的是二次離子質譜（ sims ） 。
  4. The films were characterized by diffraction, x - ray photoelectron spectroscopy, scanning electron microscopy, secondary ion mass spectrometer to research their hfa phase, morphology, fluorine content and fluorine distribution

    在實驗中運用xrd 、 xps 、 sem 、 sims 、 sem等技術對薄膜的相組成、表面形貌、氟含量以及氟分佈進行了分析和研究。
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