built-in self test (bist) 中文意思是什麼
built-in self test (bist)
解釋
內置自測試-
Jx5 microprocessor s testing structure comprises built - in self - test ( bist ), boundary scan and internal scan
Jx5微處理器的測試結構由bist 、邊界掃描和內部掃描三部分組成。 -
Built - in self - test of logic blocks in fpgas finally, a free lunch : bist without overhead !. in proc. vlsi test symp.,
對於一個具有4輸入lut的fpga來說,這與lut測試需要8次配置形成了鮮明的對比。
分享友人