電子束偏移 的英文怎麼說

中文拼音 [diànzishùpiānyí]
電子束偏移 英文
beam pulling
  • 電 : Ⅰ名詞1 （有電荷存在和電荷變化的現象） electricity 2 （電報） telegram; cable Ⅱ動詞1 （觸電） give...
  • 子 : 子Ⅰ名詞1 （兒子） son 2 （人的通稱） person 3 （古代特指有學問的男人） ancient title of respect f...
  • 束 : Ⅰ動詞1 （捆; 系） bind; tie 2 （控制; 約束）control; restrain Ⅱ量詞（用於捆在一起的東西） bundle;...
  • 偏 : Ⅰ形容詞1 （不正; 歪斜） inclined to one side; slanting; leaning 2 （只側重一面） partial; prejudi...
  • 移 : Ⅰ動詞1. （移動） move; remove; shift 2. （改變; 變動） change; alter Ⅱ名詞（姓氏） a surname
  • 電子 : [物理學] [電學] electron
  1. Part 2 analyses beam landing shifts made by thermal deformations of a shadow mask and vibration of a new type of shadow mask - aperture grille. an automatic measurement system for cpt decolorization and a vibration measurement system for aperture grille are established. part 3 analyses the difference of perception and discrimination to color between the human eyes and ccd system, and develops a new method based on ccd technology to evaluate the screen white - balance

    主要內容分為三部分： （ 1 ）分析著屏電子束分佈與電子槍、偏轉系統及蔭罩之間的關系，研製自動測試裝置，為設計和改進相關結構提供依據； （ 2 ）分析蔭罩熱變形和振動對顯示屏色純度影響，建立了色純漂移自動測試裝置和張緊式蔭罩振動測試系統； （ 3 ）分析了人眼與ccd對彩色刺激的不同響應，建立了基於ccd的顯示器全屏色純均勻性測試方法。
  2. Aberration of electronic lens made by electron gun and aberration of magnetic deflection system made by dy are comprehensively investigated, so is the shadow mask ' s effect on electron beam landing screen error. the conclusion can be get that, because the distribution of electron beam landing screen ( distribution of luminance ) is affected by many kinds of factors, it cannot get the correct function by calculation, and should be get by measurement instead

    全面分析了cpt電子槍發射系統形成的電子透鏡像差與磁偏轉系統形成的偏轉像差；分析了蔭罩的自身厚度與位移對電子束著屏的影響，並由此得出結論，著屏電子束分佈（即亮度分佈）受著許多因素的影響，理論分析是半定量的，著屏電子束分佈需要用精確的測量儀器來測量。
  3. The effect on display characteristic made by thermal deformations of the shadow mask is comprehensively investigated. by using the electron beam distribution automatic measurement system with a micro - deflective coil, a concave spot in luminance distribution can be get. it changes its position when the shadow mask changes its form

    本文系統全面地分析了傳統蔭罩的各類熱變形對顯示屏特性的影響，利用本文研製的電子束亮度分佈自動測試系統，附加一個微偏轉磁場，使相鄰兩電子束打在同一顏色的熒光粉條，並形成一個亮度凹點，當蔭罩變形時，凹點位置作相應的位移，以此原理跟蹤測量凹點位移量，即可得到色純漂移動態變化曲線。
  4. In the system, more hole deficiency was supplied by excessive la ions. this increased the concentrations of p - carries, and decreased the bound of crystal lattice field to the carries on the other hand. as a result, the dielectric peak move to lower temperature due to the carries

    發現了過量的la離子在體系中引入了較多的空位，一方面p型載流子濃度升高，另一方面使得載流子所受的品格場束縛減小，引起了由載流子導致的介電峰相對于同樣mn含量但la離子不過量的體系而言向低溫方向偏移。
  5. Beam deviation factor

    電子束偏移因數
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