退火雙晶 的英文怎麼說
中文拼音 [tuìhuǒshuāngjīng]
退火雙晶
英文
annealing twin- 退 : 動詞1 （向後移動） retreat; draw back; move back 2 （使向後移動） cause to move back; remove; wit...
- 火 : fire
- 雙 : Ⅰ形容詞1 （兩個） two; twin; both; dual 2 （偶數的） even 3 （加倍的） double; twofold Ⅱ量詞（用...
- 晶 : Ⅰ形容詞（光亮） brilliant; glittering Ⅱ名詞1. （水晶） quartz; （rock） crystal 2. （晶體） any crystalline substance
- 退火 : [冶金學] anneal; annealing; back-out
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In this paper, we used different doping means to prepare the mn - doped gaas material. firstly, we incorporated mn of different dose into gaas by ion implantation, including the couple - ion implantation with mn + and c, then performed rapid thermal annealing in different temperature. furthermore, we incorporated mn into gaas using different mn sources ( pure mn and mnas ) by diffusion
本論文利用不同摻雜方法進行了摻mngaas這種dms材料樣品的制備，首先利用離子注入法對砷化鎵（ gaas ）材料進行不同劑量的錳（ mn ~ + ）離子注入，其中包括加碳（ c ）的雙離子注入，然後在不同溫度下進行快速退火處理；此外還利用擴散法對gaas晶片進行不同mn擴散源（純mn 、及mnas ）的摻雜。In succession, tini thin film is deposited on single - crystal silicon substrate using optimized parameters utilizing sputtering, and its transformation temperature ( a * ) is 72 ? indicated by dsc curve after being annealed in an ultra - high vacuum ( uhv ) chamber. in addition, the composition of the silicon - based tini film was analyzed by an energy dispersive x - ray spectroscopy ( eds ), and the ti content in the film is approximately 51at %
按照改進的工藝參數，在單晶硅襯底上濺射-淀積了tini薄膜，並進行了超高真空退火， dsc法測得其馬氏體逆相變峰值溫度為72 ，利用能譜分析（ eds ）技術測得其ti含量約為51at ，通過對非晶tini薄膜與單晶硅襯底之間的界面進行eds及x射線衍射（ xrd ）分析，發現在用大功率（ 2000w ）直流磁控濺射法制備tini薄膜過程中，存在ti 、 ni與si的雙向擴散，發生了界面反應，並有三元化合物ni _ 3ti _ 2si生成。We also investigated the effect of c on the samples formed by ion implantation of mn and c. we studied the samples " crystal structure and surface appearance by x - ray diffraction and afm, experimental results revealed that with increasing the annealing temperature, the crystal lattice reformed and defect in the surface reduced gradually
還進行了mn ~ + 、 c雙離子注入，研究了c對樣品性質的影響。利用x -射線衍射法和原子力顯微鏡對樣品的晶體結構和表面形貌進行了研究。發現隨著退火溫度的升高，樣品的晶格質量得以恢復；注入表面形成的晶格缺陷逐漸減少。
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